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              能量分散型X射線熒光分析儀 元素分析儀

              發(fā)布時間:2019/8/9點擊次數(shù):368

              能量分散型X射線熒光分析儀  元素分析儀

              型號:GR/JSX-3400R

              新型號x射線熒光光譜儀,是日本電子株式會社2006年6月的升級版能量色散型光譜儀,是一直以來受用戶好評的基礎(chǔ)上,進一步升級產(chǎn)品。該設(shè)備具有出眾性能指標,不僅能很好對應(yīng)rohs指令、elv指令和其它環(huán)境指令相關(guān)元系分析,指令以外的一般元素也能在高感度下測試分析。

                主要特點:液氮制冷型探頭、世界zui高探頭等分辨率、同等時間內(nèi)zui高檢出限度、測試時間短、各類優(yōu)異軟件、能量過濾裝置等。該產(chǎn)品世界各地,在同類型產(chǎn)品中性能,其穩(wěn)定優(yōu)異性能深受廣大用戶的好評與青睞。

              特點

              * 短距離傳導(dǎo)光路

              * zui高分辨率檢測探頭

              * 低檢測下限

              * 短測試時間

              * 射線過濾機構(gòu)

              * 補正檢量線法

              * 簡單的操作界面

              * 膜厚測定軟件

              * 焊錫鍍層成分分析軟件

              規(guī)格:

              分析范圍: na to u(cd,pb,cr,hg,br)

              x射線管:  rh-tube,50kv-1.0ma

              樣品室:   300mmφ-160mmh

              樣品托:   1, 16(選購)

              準直器:  ф 1mm;ф3mm; ф7mm

              過濾器:   4種

              樣品環(huán)境: 大氣,真空(選購)

              軟   件:   環(huán)境分析軟件包

              日本電子制造的JSX-3400R是靈敏度和操作性大幅提高的能量分散型x射線熒光分析儀,不僅可用于一般性分析,還可用于rohs與elv的審查與驗收分析

              此款分析儀應(yīng)對EU(歐盟)電器及電子設(shè)備廢料回收(WEEE)和特定有害物質(zhì)的使用限制(RoHS)指令。

              采用新式光學(xué)系統(tǒng)、高能X射線發(fā)生源、高分解能探測器,可以檢測塑料、包裝材料、顏料中鎘(Cd)、鉛(Pb)、水銀(Hg)、鉻(Cr)等特定有害物質(zhì)和砷(As)等有毒物質(zhì),檢測精度達到ppm數(shù)量級

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